東京都知事賞：
内部欠陥の検査が可能な裏面保護フィルム （特許第6228343号）

当社は、半導体チップを反転して回路面の電極を基板に直接接合するフリップチップ実装において、露出するチップ裏面を保護するためのテープを独自開発し、市場で高いシェアを占めています。本発明は、研削面の隠蔽による外観品質の確保と、内部欠陥の非破壊検査を実現するものであり、可視光を遮断しつつ、チップのクラックなどの微小欠陥を検出するための赤外光は透過することで、保護テープを貼付した状態での赤外線検査を可能としました。

受賞者：佐伯 尚哉、山本 大輔、米山 裕之、髙野 健

発明奨励賞：
高輝度LEDを支える低屈折PSQ固定材 （特許第6779235号）

昨今、LEDの高輝度化・高出力化が進む中、光素子の固定材には高温、高エネルギー光が集中する中での高い接着性能と、高い透明性、優れた光学特性が求められていますが、エポキシ系やシリコーン系の従来材料ではその材料特性上、両者にトレードオフの関係があり、両立が困難でした。本発明は、このトレードオフの問題を解消するものであり、材料の分子設計から見直し、PSQ（ポリシルセスキオキサン）を材料骨格として採用。安定した接着強度と光学用途に適した低屈折率を実現し、デバイスの高信頼性と高性能化を実現しました。

受賞者：七島 祐、中山 秀一、宮脇 学、樫尾 幹広